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全范圍粒度粒形儀產(chǎn)品介紹：

  R-2000是一款將自動(dòng)成像技術(shù)和樣品分散結(jié)合的產(chǎn)品，單色面光源結(jié)合線陣CCD的高銳度成像，不但可以獲得顆粒的全面的尺寸及形貌信息：每個(gè)顆粒都“真實(shí)可見",而且可以獲得顆粒的整體統(tǒng)計(jì)學(xué)信息，包括粒度、粒形分布，不同參數(shù)的箱型圖、散點(diǎn)圖等。

R-2000提供從10μm到5cm的全范圍粒度粒形解決方案，適用于自然礦物顆粒、粉體造粒、纖維、平面型材料孔徑等分析，基于靜態(tài)圖像分析方法可在短短幾分鐘內(nèi)對(duì)成千上萬(wàn)個(gè)顆粒進(jìn)行統(tǒng)計(jì)，無(wú)論從測(cè)試精確度、功能完善性，還是操作的便捷性，都遠(yuǎn)超傳統(tǒng)的篩分法以及顯微觀察法。

產(chǎn)品特點(diǎn)：

更大分散面，分散面尺寸達(dá)0120cm*20cm,能分散更多的樣品

單張成像可達(dá)25000*25000的超高分06辨率，微毫必現(xiàn)

創(chuàng)新的真空分散器，可分散02微米級(jí)顆粒

高達(dá)30余種粒度粒形參數(shù)，可實(shí)現(xiàn)多種07過(guò)濾設(shè)置，可對(duì)顆粒進(jìn)行快速分類

線陣CCD單透鏡技術(shù)，無(wú)需03切換鏡頭，即可覆蓋10-50000μm的測(cè)試范圍

所有顆粒自動(dòng)保存，可選擇性導(dǎo)出特08定顆粒

測(cè)試過(guò)程自動(dòng)化，減少04了人為因素的影響

多種數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)形式：柱狀圖、曲線圖、09箱型圖、散點(diǎn)圖等，可對(duì)同類型參數(shù)進(jìn)行橫向?qū)Ρ?，亦可?duì)不同類型的參數(shù)進(jìn)行關(guān)聯(lián)分析

實(shí)現(xiàn)樣品全檢測(cè)，不漏過(guò)任05何一個(gè)“大顆粒"

測(cè)試樣品可100%回收